超声楔形键合(Ultrasonic Wedge Bonding)是半导体封装、功率电子与微电子制造中的核心互连工艺。该工艺通过超声振动、机械压力与热量,将铝线(Al)或铜线(Cu)牢固键合至芯片焊盘,具备高速、高一致性的优势。 然而,随着器件向更高功率密度、更小尺寸与更高电流承载能力发展,键合工具正承受前所未有的热、磨损与粘附挑战,传统涂层方案已逐渐无法
键合过程中接触界面摩擦剧烈,伴随粘着现象产生大量局部热量,导致工具表面温度急剧升高,并加速材料退化与磨损。
长时间超声振动作用下,键合工具尖端承受反复机械冲击,容易产生微裂纹与微崩刃,持续削弱几何精度与键合稳定性。
在铜线(Cu)楔形键合制程中,金属间粘附现象尤为严重,易造成拉伤、残留与表面污染,直接影响键合质量与重复性。
随着工具磨损与表面状态变化,焊料流动与变形行为变得不均匀,导致互连结构一致性下降,进而影响长期电气与机械可靠性。
纳峰科技 的 i-TAC® 涂层在持续的键合高温环境下,仍能提供卓越的耐磨性能与稳定硬度。其先进的 FCVA 薄膜结构 可有效保护楔形键合工具,防止氧化、变形及金属粘附。在高达 600 °C 的条件下,i-TAC® 依然保持工具几何形状稳定,显著延长使用寿命,提升键合一致性,并降低换刀频率,助力半导体封装实现高良率量产。
纳峰科技的 i-TAC® 可在 600 °C 条件下实现最高达 3 倍的工具寿命与稳定的键合性能。
| 项目 | i-TAC® 涂层 | 未涂层 |
|---|---|---|
| 结构 | Ti + TAC 多层结构 | 裸露硬质合金(碳化钨)/ 钛合金 |
| 最大镀膜温度(°C) | < 100 | N.A. |
| 典型厚度(µm) | 6.0 ± 2.0 | N.A. |
| 纳米硬度(HV) | 3,200 | ~1,000 |
| 摩擦系数 | < 0.10 | 0.45 – 0.55 |
| 性能影响 | 显著延长使用寿命;在高达 600 °C 下仍可保持稳定键合品质 | 易频繁磨损与氧化,工具寿命短 |
减少更换频率与停机时间
低摩擦、低热积累支持更快节拍
稳定焊料分布提升互连可靠性
工具状态长期稳定
降低维护与备件成本
随着半导体产业全面迈向 Cu 楔形键合与先进封装,对工具性能的要求已远超传统涂层能力边界。
i-TAC® 以极端硬度、高温稳定性、超低摩擦与焊料一致性,为下一代楔形键合提供经验证的可靠解决方案。
i-TAC® 具备约 2.7 倍于 DLC 的硬度,并在 600 °C 下保持稳定性能,远超传统 DLC 的温度与耐磨极限。
非常适合。其超低摩擦与抗粘附特性可显著降低铜线粘附问题。
不会。致密、无缺陷的薄膜结构可长期保持工具几何形状与表面精度。
是的,i-TAC® 已在多条半导体封装产线上验证,工具寿命最高提升达 3 倍。
亦适用于功率电子、微电子制造及其他高温高磨损精密接触应用。